主要特性
带宽：1GHz,500MHz,350MHz
通道数：8/6/4+EXT
垂直分辨率：12-bit
实时采样率：高5 GSa/s
波形捕获率：高65万帧/秒
高分辨率，满足更高精度测试需求
12-bit高分辨率ADC采样，更好地呈现波形细节；
的本底噪声，1GHz全带宽下本底噪声低至140μV
直流增益精度±0.5%
多路信号时序分析，一次完成电源轨测量
现代电子系统中包含不同的芯片、模块等，不同电路模块的信号在初始化和工作时可能相互影响，通过上电时序测试，可确保各模块信号在正确的时间出现，避免信号冲突、干扰，保证系统正常运行。如在通信系统中，收发模块的上电时序不当，可能造成数据传输错误。随着技术的发展，电路的复杂度不断提高，对上电时序测试也提出了新的挑战。SDS5000X HD可一次捕获所有相关信号的上电过程，节省测量时间，提高工作效率，减少因多次测量引入的误差，对有 8 个以上电源轨的复杂电路，可一次完成测量。
三相电分析
使用八通道示波器进行三相电分析，可以同时连接三相电的各相，对三相电压、电流信号进行同步测量，能实时准确获取三相电各相的波形和参数，直接观察和比较三相电信号的相位关系，确保三相电的相位平衡。借助快速傅里叶变换（FFT）功能，多通道示波器可对三相电压、电流信号进行谐波分析。选配三相电分析，可以测试三相电机的向量图，电能质量，进行效率分析等。
完整的宽禁带半导体解决方案
鼎阳科技新八通道示波器和光隔离探头，补全了宽禁带半导体测试的后一块拼图。SDS5000X HD的上升时间达到了ps级别，可以捕捉到碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）的快速变化的波形，分析开关过程中电压，电流的瞬态变化和开关特性。通过观察信号的形状、过冲、振铃等情况，分析信号的完整性，优化电路设计。
规格参数
| 带宽 | 350 MHz、500 MHz、1 GHz |
| 实时采样率 | 5 GSa/s |
| 通道数 | 4/6/8 + EXT |
| 存储深度 | 2.5 Gpts/ch |
| 波形捕获率 | 650,000 wfm/s |
| 接口 | USB 3.0 Host x2, USB 2.0 Host x1, USB 3.0 Device, 10M/100M/1000M LAN, 外触发 输入 , 辅助 输出 (TRIG OUT, PASS/FAIL)，10MHz In, 10MHz Out, HDMI输出 |
| 数字通道（标配） | 16 路，1.25 GSa/s采样率,250 Mpts/ch存储深度 |
| 信号发生器（选配） | 外置单通道USB隔离信号发生器, 高输出频率50 MHz, 采样率125 MSa/s, 波形长度16 kpts |
| 触发类型 | 边沿、斜率、脉宽、窗口、欠幅、间隔、超时、码型、视频、前提边沿、第N边沿、延迟、建立/保持时间、串行触发 |
| 串行触发和解码 | 标配：I2C, SPI, UART, CAN, LIN 选配：CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester (仅解码), ARINC429 |
| 数据分析和数据处理工具 | 搜索、导航、历史、模板测试、数字万用表、波特图、电源分析 (选配)、三相电分析（选配）、波形直方图、计数器、双脉冲自动测量 |
| 探头 | 500MHz无源探头, 每通道1套 |
| 测量 | 超过50种参数测量，并支持直方图、趋势图和轨迹图统计 |
| 屏幕 | 12.1 英寸电容式触摸显示屏, 分辨率1280*800 |
